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Olympus BX53-P偏光顯微鏡結(jié)合了UIS2無限校正光學(xué)系統(tǒng)和獨特的光學(xué)設(shè)計，為偏振光應(yīng)用提供了卓越的性能。兼容補償器的擴展系列使BX53-P顯微鏡具有足夠的通用性，能夠處理幾乎任何領(lǐng)域的觀察和測量應(yīng)用。
UIS2光學(xué)器件提供出色的可擴展性UIS2光學(xué)系統(tǒng)最大限度地發(fā)揮了無限校正的優(yōu)勢，有助于防止光學(xué)顯微鏡性能下降并消除放大系數(shù)，即使在光路中引入了偏振元件，如分析儀、色板或補償器。BX53-P顯微鏡還接受BX3系列顯微鏡可用的中間附件，以及攝像機和成像系統(tǒng)。 |
石英閃長巖中斜長石的帶狀結(jié)構(gòu)。*刻度表示樣品的實際尺寸 |
MBBA *標(biāo)尺的光學(xué)紋理表示樣品的實際尺寸 |
| 錐光和正光觀察用貝特朗透鏡有了錐光觀察附件，在無畸變和錐光觀察之間的切換很簡單。它是可聚焦的，用于觀察清晰的后焦面干涉圖案。Bertrand透鏡是可聚焦的，用于清晰地觀察后焦平面干涉圖案。視場光闌使得始終獲得清晰的錐光圖像成為可能。 |
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廣泛的補償器和波片六種不同的補償器可用于測量巖石和礦物薄片的雙折射。測量延遲水平范圍從0到20λ。為了便于測量和高圖像對比度，Berek和Senarmont |
| 補償器的測量范圍
為了更精確的測量，我們建議補償器(除了U-CWE2)與干擾過濾器45-IF546一起使用 |
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| 最小應(yīng)變光學(xué)我們的偏振光物鏡將內(nèi)部應(yīng)變降至最低。這意味著更高的EF值，從而產(chǎn)生出色的圖像對比度。 |
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堅固而精確的旋轉(zhuǎn)平臺附在旋轉(zhuǎn)臺上的旋轉(zhuǎn)定心機構(gòu)使得樣品能夠平穩(wěn)旋轉(zhuǎn)。此外，每45度有一個點擊停止機制，以精確測量。使用可選的雙機械載物臺，謹慎的X-Y移動是可能的。 |
雙機械級 |
| 觀察方法 | 明場 | ? | |
|---|---|---|---|
| 偏光 | ? | ||
| 簡易偏光 | ? | ||
| 聚焦 | 聚焦機制 | 載物臺聚焦 | ? |
| 載物臺 | 機械式 | 精密可旋轉(zhuǎn)式載物臺 |
|
| 聚光鏡 | 手動 | 偏光聚光鏡 | NA 0.9 / WD 1.3毫米（載玻片1.5毫米）（4X-100X） |
| 觀察筒 | 寬視場(FN 22) | 三目觀察筒 | ? |
| 傾斜式三目觀察筒 | ? | ||
| 尺寸（寬×深×高） | 274 (W) x 436 (D) x 535 (H) mm | ||
| 重量 | 16 kg |
北京瑞科中儀科技有限公司專注顯微成像整體方案。 您的選擇，我的榮幸。 京ICP備11027741號-1 XML地圖
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